磁粉探傷試験(Magnetic Particle Testing)
試験の目的：表面きずの検出、表面直下のきずの検出
磁粉探傷試験は、試験体に磁性を与え、表面に磁粉と呼ばれる磁性体の微粉末を散布させて、きず部分に吸引されることによりできる磁粉模様によりきずを検出する方法です。
＜特徴＞
炭素鋼（鉄と炭素の合金）などの磁石に吸引される強磁性体のみに適応されますが、強磁性体に対しては最も高い検出性能を有した手法であると言われております。
表面のきずだけでなく、表面直下（表面から数㎜程度の深さ）のきずも検出できるのも特徴の一つです。
磁粉探傷試験図
高菱検査サービスでは
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